三豐Mitutoyo顯微鏡O378 185 4
FS-70 378系列-半導體檢測用顯微鏡 日本三豐品牌 MITUTOYO 378-185-4 顯微鏡 特點: 1、此光學系統(tǒng)最初是為了暢銷的FS60型(后升級為FS70型)而開發(fā)的。它作為測量檢測半導體器件的顯微鏡是很理想的。 2、FS70L支持3種YAG激光波長(1064nm,532nm,355nm),F(xiàn)S70L4支持2種波長(532nm,266nm),可在半導體和液晶基板中使用薄膜激
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